FT測試系統(tǒng)的FT-S配置（光譜參數(shù)測量）

      紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件。探測器電路（核心）的設(shè)計(jì)是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。因?yàn)榧t外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限，紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識。因此，測量紅外焦平面陣列性能的測量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵。

      FT是一個(gè)完備的測試系統(tǒng)，它產(chǎn)生精確控制時(shí)空分布的紅外，輻射到紅外焦平面的輸入平面來控制被測紅外焦平面；最后對被測紅外焦平面陣列（或熱像儀核心）進(jìn)行表征所需的輸出信號進(jìn)行半自動(dòng)分析。

      該系統(tǒng)能夠測量熱像儀核心和紅外焦平面陣列的所有重要參數(shù)（噪聲/靈敏度、成像質(zhì)量和光譜參數(shù)）?？蓽y試不同光譜波段（LWIR或MWIR）、冷卻或非冷卻的探測器。FT系統(tǒng)可以在一系列版本中提供，并針對不同測試范圍的熱成像核心和紅外焦平面陣列進(jìn)行優(yōu)化，還可以選擇能夠測試完整的熱像儀的超擴(kuò)展版本。

FT測量系統(tǒng)一個(gè)模塊化的系統(tǒng)，可以方便快速地配置成三個(gè)半獨(dú)立的測量工作站：FT-N，F(xiàn)T-I，和FT-S。

1.FT-N——噪聲和響應(yīng)參數(shù)的測量；

2.FT-I——成像質(zhì)量參數(shù)的測量

3.FT-S——光譜參數(shù)測量。